统计模试识别技术在单分散二氧化硅微球制备过程中的应用
文献类型：期刊论文
| 作者 | 张辉 ; 赵晓峰 ; 唐清 ; 李文超 |
| 刊名 | 中国粉体技术
 |
| 出版日期 | 2003 |
| 期号 | 01页码:18-20 |
| 关键词 | 统计模式识别 二氧化硅微球 单分散 |
| 中文摘要 | 利用计算机模式识别技术对Stober法的单分散二氧化硅微球制备工艺参数进行分析,给出了目标优化区,并利用模式逆映照对工艺参数进行了预报,通过实验验证了预报结果的可靠性。 |
| 公开日期 | 2013-11-11 |
| 版本 | 出版稿 |
| 源URL | [http://ir.ipe.ac.cn/handle/122111/5525]  |
| 专题 | 过程工程研究所_研究所（批量导入） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张辉,赵晓峰,唐清,等. 统计模试识别技术在单分散二氧化硅微球制备过程中的应用[J]. 中国粉体技术,2003(01):18-20. |
| APA | 张辉,赵晓峰,唐清,&李文超.(2003).统计模试识别技术在单分散二氧化硅微球制备过程中的应用.中国粉体技术(01),18-20. |
| MLA | 张辉,et al."统计模试识别技术在单分散二氧化硅微球制备过程中的应用".中国粉体技术 .01(2003):18-20. |
入库方式： OAI收割
来源：过程工程研究所
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