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N2 流量对中频非平衡磁控溅射TiAlN薄膜结构及性能的影响

文献类型:期刊论文

作者吴劲峰; 何乃如; 邱孟柯; 吉利; 李红轩; 黄小鹏
刊名功能材料
出版日期2013
卷号44期号:1页码:32-35
关键词磁控溅射 TiAlN 薄膜 N2 流量 微观结构 硬度 magnetron sputtering TiAlN films nitrogen flow microstructure hardness
ISSN号1001-9731
通讯作者吴劲峰
中文摘要

采用非平衡磁控溅射技术在AISI202不锈钢片和P(111)单晶硅基底上制备了TiAlN薄膜,并利用场发射扫描电镜(FESEM)、三维轮廓仪、X射线衍射仪(XRD)、X射线电子能谱仪(XPS)、纳米压痕仪对薄膜的结构和性能进行了考查。结果表明,随着N流量的升高,TiAlN薄膜的沉积速率降低,Al/Ti比率先升高后迅速降低;薄膜主要由TiN 立方晶构成,且随N流量的升高晶粒尺寸减小,柱状晶结构变疏松。在氮气流量为20mL/min时,薄膜具有最高的硬度及结合力。

学科主题材料科学与物理化学
收录类别EI&CSCD
资助信息国家自然科学基金资助项目(51065001)
语种中文
公开日期2013-12-10
源URL[http://210.77.64.217/handle/362003/4596]  
专题兰州化学物理研究所_先进润滑与防护材料研究发展中心
兰州化学物理研究所_固体润滑国家重点实验室
推荐引用方式
GB/T 7714
吴劲峰,何乃如,邱孟柯,等. N2 流量对中频非平衡磁控溅射TiAlN薄膜结构及性能的影响[J]. 功能材料,2013,44(1):32-35.
APA 吴劲峰,何乃如,邱孟柯,吉利,李红轩,&黄小鹏.(2013).N2 流量对中频非平衡磁控溅射TiAlN薄膜结构及性能的影响.功能材料,44(1),32-35.
MLA 吴劲峰,et al."N2 流量对中频非平衡磁控溅射TiAlN薄膜结构及性能的影响".功能材料 44.1(2013):32-35.

入库方式: OAI收割

来源:兰州化学物理研究所

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