N2 流量对中频非平衡磁控溅射TiAlN薄膜结构及性能的影响
文献类型:期刊论文
作者 | 吴劲峰; 何乃如![]() ![]() ![]() |
刊名 | 功能材料
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出版日期 | 2013 |
卷号 | 44期号:1页码:32-35 |
关键词 | 磁控溅射 TiAlN 薄膜 N2 流量 微观结构 硬度 magnetron sputtering TiAlN films nitrogen flow microstructure hardness |
ISSN号 | 1001-9731 |
通讯作者 | 吴劲峰 |
中文摘要 | 采用非平衡磁控溅射技术在AISI202不锈钢片和P(111)单晶硅基底上制备了TiAlN薄膜,并利用场发射扫描电镜(FESEM)、三维轮廓仪、X射线衍射仪(XRD)、X射线电子能谱仪(XPS)、纳米压痕仪对薄膜的结构和性能进行了考查。结果表明,随着N2流量的升高,TiAlN薄膜的沉积速率降低,Al/Ti比率先升高后迅速降低;薄膜主要由TiN 立方晶构成,且随N2流量的升高晶粒尺寸减小,柱状晶结构变疏松。在氮气流量为20mL/min时,薄膜具有最高的硬度及结合力。 |
学科主题 | 材料科学与物理化学 |
收录类别 | EI&CSCD |
资助信息 | 国家自然科学基金资助项目(51065001) |
语种 | 中文 |
公开日期 | 2013-12-10 |
源URL | [http://210.77.64.217/handle/362003/4596] ![]() |
专题 | 兰州化学物理研究所_先进润滑与防护材料研究发展中心 兰州化学物理研究所_固体润滑国家重点实验室 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 吴劲峰,何乃如,邱孟柯,等. N2 流量对中频非平衡磁控溅射TiAlN薄膜结构及性能的影响[J]. 功能材料,2013,44(1):32-35. |
APA | 吴劲峰,何乃如,邱孟柯,吉利,李红轩,&黄小鹏.(2013).N2 流量对中频非平衡磁控溅射TiAlN薄膜结构及性能的影响.功能材料,44(1),32-35. |
MLA | 吴劲峰,et al."N2 流量对中频非平衡磁控溅射TiAlN薄膜结构及性能的影响".功能材料 44.1(2013):32-35. |
入库方式: OAI收割
来源:兰州化学物理研究所
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