一种柔性磁性薄膜饱和磁致伸缩系数的测量方法
文献类型：专利
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| 作者 | 詹清峰 ; 张晓山 ; 刘宜伟 ; 代国红 ; 李润伟 |
| 发表日期 | 2013-01-23 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 |
| 中文摘要 | 本发明提供了一种柔性磁性薄膜饱和磁致伸缩系数的测量方法。该方法采用由非磁性材料制成的、具有固定曲率半径的非磁性模具对柔性磁性薄膜产生应变，得到所施加应力与无应力存在时的应力差Δσ，然后利用磁光克尔效应测试系统测量该柔性磁性薄膜样品在无应变与应变条件下各向异性场的变化量ΔHK，通过饱和磁致伸缩系数公式λs=ΔHkMs/(3Δσ)，直接计算得到该柔性磁性薄膜的饱和磁致伸缩系数λs。与现有磁性薄膜的磁致伸缩系数测量方法相比，本发明具有测量精度高、简单易行、成本低的优点，具有良好的应用前景。 |
| 公开日期 | 2013-12-16 |
| 专利申请号 | CN201210363918.3 |
| 专利代理 | 陈英俊 |
| 源URL | [http://ir.nimte.ac.cn/handle/174433/10913]  |
| 专题 | 宁波材料技术与工程研究所_专利成果 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 詹清峰,张晓山,刘宜伟,等. 一种柔性磁性薄膜饱和磁致伸缩系数的测量方法, 一种柔性磁性薄膜饱和磁致伸缩系数的测量方法. 2013-01-23. |
入库方式： OAI收割
来源：宁波材料技术与工程研究所
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