Nanometer to micrometer scaled inhomogeneous etching of bulk metallic glasses by ion sputtering
文献类型：期刊论文
| 作者 | J. W. Deng ; K. Du ; B. Wu ; M. L. Sui |
| 刊名 | Intermetallics
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| 出版日期 | 2013 |
| 卷号 | 34页码:75-82 |
| 关键词 | Glasses metallic Electron microscopy transmission Electron microscopy scanning Scanning tunneling electron microscopy medium-range order fluctuation electron-microscopy mater. res. 24 z-l. zhang y-m. chen b-j. park x-d. wang q-p. cao tensile ductility amorphous-alloys |
| ISSN号 | 0966-9795 |
| 原文出处 | |
| 语种 | 英语 |
| 公开日期 | 2013-12-24 |
| 源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/71183]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | J. W. Deng,K. Du,B. Wu,et al. Nanometer to micrometer scaled inhomogeneous etching of bulk metallic glasses by ion sputtering[J]. Intermetallics,2013,34:75-82. |
| APA | J. W. Deng,K. Du,B. Wu,&M. L. Sui.(2013).Nanometer to micrometer scaled inhomogeneous etching of bulk metallic glasses by ion sputtering.Intermetallics,34,75-82. |
| MLA | J. W. Deng,et al."Nanometer to micrometer scaled inhomogeneous etching of bulk metallic glasses by ion sputtering".Intermetallics 34(2013):75-82. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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