负向脉宽对Mg-Gd-Y合金微弧氧化膜致密性的影响
文献类型:期刊论文
作者 | 郭泉忠 ; 杜克勤 ; 朱秀荣 ; 王荣 ; 徐永东 ; 王福会 |
刊名 | 腐蚀科学与防护技术
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出版日期 | 2013-03-15 |
期号 | 2页码:89-94 |
关键词 | 镁合金 微弧氧化 负向脉宽 电化学阻抗谱 致密性 |
中文摘要 | 通过在特定的电参数下改变负向脉宽,在Mg-Gd-Y合金表面制备了不同的微弧氧化膜。利用扫描电镜和电化学方法研究氧化膜的显微组织和电化学行为。结果表明:负向脉宽对于微弧氧化膜的致密性具有重要影响,适当的负向脉宽可以有效地提高膜层致密性,而稍低或者过高的负向脉宽都会降低氧化膜的致密性,从而降低涂层的耐腐蚀性。 |
语种 | 中文 |
公开日期 | 2013-12-25 |
源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/71808] ![]() |
专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 郭泉忠,杜克勤,朱秀荣,等. 负向脉宽对Mg-Gd-Y合金微弧氧化膜致密性的影响[J]. 腐蚀科学与防护技术,2013(2):89-94. |
APA | 郭泉忠,杜克勤,朱秀荣,王荣,徐永东,&王福会.(2013).负向脉宽对Mg-Gd-Y合金微弧氧化膜致密性的影响.腐蚀科学与防护技术(2),89-94. |
MLA | 郭泉忠,et al."负向脉宽对Mg-Gd-Y合金微弧氧化膜致密性的影响".腐蚀科学与防护技术 .2(2013):89-94. |
入库方式: OAI收割
来源:金属研究所
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