中国科学院机构知识库网格
Chinese Academy of Sciences Institutional Repositories Grid
负向脉宽对Mg-Gd-Y合金微弧氧化膜致密性的影响

文献类型:期刊论文

作者郭泉忠 ; 杜克勤 ; 朱秀荣 ; 王荣 ; 徐永东 ; 王福会
刊名腐蚀科学与防护技术
出版日期2013-03-15
期号2页码:89-94
关键词镁合金 微弧氧化 负向脉宽 电化学阻抗谱 致密性
中文摘要通过在特定的电参数下改变负向脉宽,在Mg-Gd-Y合金表面制备了不同的微弧氧化膜。利用扫描电镜和电化学方法研究氧化膜的显微组织和电化学行为。结果表明:负向脉宽对于微弧氧化膜的致密性具有重要影响,适当的负向脉宽可以有效地提高膜层致密性,而稍低或者过高的负向脉宽都会降低氧化膜的致密性,从而降低涂层的耐腐蚀性。
语种中文
公开日期2013-12-25
源URL[http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/71808]  
专题金属研究所_中国科学院金属研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
郭泉忠,杜克勤,朱秀荣,等. 负向脉宽对Mg-Gd-Y合金微弧氧化膜致密性的影响[J]. 腐蚀科学与防护技术,2013(2):89-94.
APA 郭泉忠,杜克勤,朱秀荣,王荣,徐永东,&王福会.(2013).负向脉宽对Mg-Gd-Y合金微弧氧化膜致密性的影响.腐蚀科学与防护技术(2),89-94.
MLA 郭泉忠,et al."负向脉宽对Mg-Gd-Y合金微弧氧化膜致密性的影响".腐蚀科学与防护技术 .2(2013):89-94.

入库方式: OAI收割

来源:金属研究所

浏览0
下载0
收藏0
其他版本

除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。