AFM study of growth mode of high temperature superconducting Bi2Sr1.6La0.6CuO6 epitaxalthin films
文献类型：期刊论文
| 作者 | H.J. Tao ; H.T. Yang ; Y.Z. Zhang ; W.L. Yang ; L. Li ; Z.X. Zhao |
| 刊名 | J. of Chinese Electron Microscopy Society
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| 出版日期 | 1999 |
| 卷号 | 18页码:76 |
| 公开日期 | 2013-09-17 |
| 源URL | [http://ir.iphy.ac.cn/handle/311004/33508]  |
| 专题 | 物理研究所_物理所公开发表论文_物理所公开发表论文_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | H.J. Tao,H.T. Yang,Y.Z. Zhang,et al. AFM study of growth mode of high temperature superconducting Bi2Sr1.6La0.6CuO6 epitaxalthin films[J]. J. of Chinese Electron Microscopy Society,1999,18:76. |
| APA | H.J. Tao,H.T. Yang,Y.Z. Zhang,W.L. Yang,L. Li,&Z.X. Zhao.(1999).AFM study of growth mode of high temperature superconducting Bi2Sr1.6La0.6CuO6 epitaxalthin films.J. of Chinese Electron Microscopy Society,18,76. |
| MLA | H.J. Tao,et al."AFM study of growth mode of high temperature superconducting Bi2Sr1.6La0.6CuO6 epitaxalthin films".J. of Chinese Electron Microscopy Society 18(1999):76. |
入库方式： OAI收割
来源：物理研究所
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