CROSS-SECTIONAL TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY OF SILICON LSI CIRCUITS AND JOSEPHSON JUNCTION DEVICES
文献类型：期刊论文
| 作者 | DU, AY ; CHU, YM |
| 刊名 | JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY TECHNIQUE
 |
| 出版日期 | 1987 |
| 卷号 | 7期号:4页码:319 |
| ISSN号 | 0741-0581 |
| 收录类别 | SCI |
| 语种 | 英语 |
| 公开日期 | 2013-09-17 |
| 源URL | [http://ir.iphy.ac.cn/handle/311004/35328]  |
| 专题 | 物理研究所_物理所公开发表论文_物理所公开发表论文_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | DU, AY,CHU, YM. CROSS-SECTIONAL TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY OF SILICON LSI CIRCUITS AND JOSEPHSON JUNCTION DEVICES[J]. JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY TECHNIQUE,1987,7(4):319. |
| APA | DU, AY,&CHU, YM.(1987).CROSS-SECTIONAL TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY OF SILICON LSI CIRCUITS AND JOSEPHSON JUNCTION DEVICES.JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY TECHNIQUE,7(4),319. |
| MLA | DU, AY,et al."CROSS-SECTIONAL TRANSMISSION ELECTRON-MICROSCOPY OF SILICON LSI CIRCUITS AND JOSEPHSON JUNCTION DEVICES".JOURNAL OF ELECTRON MICROSCOPY TECHNIQUE 7.4(1987):319. |
入库方式： OAI收割
来源：物理研究所
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