用Re/Al_2O_3/Al隧道结的电子隧道测定重掺杂Re膜的超导能隙
文献类型：期刊论文
| 作者 | 王瑞兰 ; 李宏成 ; 管惟炎 |
| 刊名 | 物理学报
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| 出版日期 | 1987 |
| 期号 | 12页码:1643-1644 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2013-09-23 |
| 源URL | [http://ir.iphy.ac.cn/handle/311004/44065]  |
| 专题 | 物理研究所_物理所公开发表论文_物理所公开发表论文_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王瑞兰,李宏成,管惟炎. 用Re/Al_2O_3/Al隧道结的电子隧道测定重掺杂Re膜的超导能隙[J]. 物理学报,1987(12):1643-1644. |
| APA | 王瑞兰,李宏成,&管惟炎.(1987).用Re/Al_2O_3/Al隧道结的电子隧道测定重掺杂Re膜的超导能隙.物理学报(12),1643-1644. |
| MLA | 王瑞兰,et al."用Re/Al_2O_3/Al隧道结的电子隧道测定重掺杂Re膜的超导能隙".物理学报 .12(1987):1643-1644. |
入库方式： OAI收割
来源：物理研究所
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