用能量色散X射线荧光光谱法非破坏测定合金薄膜的组份
文献类型：期刊论文
| 作者 | 程建邦 ; 李传芳 ; 谢荣厚 |
| 刊名 | 光谱学与光谱分析
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| 出版日期 | 1987 |
| 期号 | 2页码:63-65 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2013-09-23 |
| 源URL | [http://ir.iphy.ac.cn/handle/311004/44146]  |
| 专题 | 物理研究所_物理所公开发表论文_物理所公开发表论文_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 程建邦,李传芳,谢荣厚. 用能量色散X射线荧光光谱法非破坏测定合金薄膜的组份[J]. 光谱学与光谱分析,1987(2):63-65. |
| APA | 程建邦,李传芳,&谢荣厚.(1987).用能量色散X射线荧光光谱法非破坏测定合金薄膜的组份.光谱学与光谱分析(2),63-65. |
| MLA | 程建邦,et al."用能量色散X射线荧光光谱法非破坏测定合金薄膜的组份".光谱学与光谱分析 .2(1987):63-65. |
入库方式： OAI收割
来源：物理研究所
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