由软X辐射强度确定CT-6B装置中杂质氧的含量及有效电菏Z_(eff)
文献类型：期刊论文
| 作者 | 万柏坤 ; 戚霞枝 ; 郑少白 |
| 刊名 | 物理
 |
| 出版日期 | 1982 |
| 期号 | 11页码:682-684+699 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2013-09-23 |
| 源URL | [http://ir.iphy.ac.cn/handle/311004/44231]  |
| 专题 | 物理研究所_物理所公开发表论文_物理所公开发表论文_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 万柏坤,戚霞枝,郑少白. 由软X辐射强度确定CT-6B装置中杂质氧的含量及有效电菏Z_(eff)[J]. 物理,1982(11):682-684+699. |
| APA | 万柏坤,戚霞枝,&郑少白.(1982).由软X辐射强度确定CT-6B装置中杂质氧的含量及有效电菏Z_(eff).物理(11),682-684+699. |
| MLA | 万柏坤,et al."由软X辐射强度确定CT-6B装置中杂质氧的含量及有效电菏Z_(eff)".物理 .11(1982):682-684+699. |
入库方式： OAI收割
来源：物理研究所
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