XPS studies of the interface of the oxygen sensing cerium dioxide/ niobium pentoxide double-layered films (in Chinese)
文献类型：期刊论文
| 作者 | X.H. Du ; Z.X. Liu ; K. Xie ; Y.B. Wang ; W.Y. Chu |
| 刊名 | Vacu. Sci. & Tech.
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| 出版日期 | 1999 |
| 卷号 | 19页码:159 |
| 公开日期 | 2013-09-23 |
| 源URL | [http://ir.iphy.ac.cn/handle/311004/46676]  |
| 专题 | 物理研究所_物理所公开发表论文_物理所公开发表论文_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | X.H. Du,Z.X. Liu,K. Xie,et al. XPS studies of the interface of the oxygen sensing cerium dioxide/ niobium pentoxide double-layered films (in Chinese)[J]. Vacu. Sci. & Tech.,1999,19:159. |
| APA | X.H. Du,Z.X. Liu,K. Xie,Y.B. Wang,&W.Y. Chu.(1999).XPS studies of the interface of the oxygen sensing cerium dioxide/ niobium pentoxide double-layered films (in Chinese).Vacu. Sci. & Tech.,19,159. |
| MLA | X.H. Du,et al."XPS studies of the interface of the oxygen sensing cerium dioxide/ niobium pentoxide double-layered films (in Chinese)".Vacu. Sci. & Tech. 19(1999):159. |
入库方式： OAI收割
来源：物理研究所
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