不缀饰直拉硅单晶原生微缺陷X射线形貌观察
文献类型：期刊论文
| 作者 | 麦振洪 ; 崔树范 ; 傅全贵 ; 林汝淦 ; 张金福 |
| 刊名 | 物理
 |
| 出版日期 | 1984 |
| 期号 | 7页码:418-419+403 |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2013-09-23 |
| 源URL | [http://ir.iphy.ac.cn/handle/311004/47085]  |
| 专题 | 物理研究所_物理所公开发表论文_物理所公开发表论文_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 麦振洪,崔树范,傅全贵,等. 不缀饰直拉硅单晶原生微缺陷X射线形貌观察[J]. 物理,1984(7):418-419+403. |
| APA | 麦振洪,崔树范,傅全贵,林汝淦,&张金福.(1984).不缀饰直拉硅单晶原生微缺陷X射线形貌观察.物理(7),418-419+403. |
| MLA | 麦振洪,et al."不缀饰直拉硅单晶原生微缺陷X射线形貌观察".物理 .7(1984):418-419+403. |
入库方式： OAI收割
来源：物理研究所
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