高温DC SQUID在无损检测中的应用
文献类型：期刊论文
| 作者 | 孔祥燕 ; 任育峰 ; 于洪伟 ; 陈赓华 ; 张利华 ; 杨乾 |
| 刊名 | 低温物理学报
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| 出版日期 | 2005 |
| 期号 | S1页码:619-622 |
| 公开日期 | 2013-09-23 |
| 源URL | [http://ir.iphy.ac.cn/handle/311004/48249]  |
| 专题 | 物理研究所_物理所公开发表论文_物理所公开发表论文_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 孔祥燕,任育峰,于洪伟,等. 高温DC SQUID在无损检测中的应用[J]. 低温物理学报,2005(S1):619-622. |
| APA | 孔祥燕,任育峰,于洪伟,陈赓华,张利华,&杨乾.(2005).高温DC SQUID在无损检测中的应用.低温物理学报(S1),619-622. |
| MLA | 孔祥燕,et al."高温DC SQUID在无损检测中的应用".低温物理学报 .S1(2005):619-622. |
入库方式： OAI收割
来源：物理研究所
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