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红外区熔再结晶SOI GE_XSi_(1-X)合金沟道P-MOSFET的研究

文献类型:期刊论文

作者付军 ; 栾洪发 ; 田立林 ; 钱佩信 ; 周均铭
刊名半导体学报
出版日期1997
期号8页码:603-608
语种中文
公开日期2013-09-23
源URL[http://ir.iphy.ac.cn/handle/311004/48751]  
专题物理研究所_物理所公开发表论文_物理所公开发表论文_期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
付军,栾洪发,田立林,等. 红外区熔再结晶SOI GE_XSi_(1-X)合金沟道P-MOSFET的研究[J]. 半导体学报,1997(8):603-608.
APA 付军,栾洪发,田立林,钱佩信,&周均铭.(1997).红外区熔再结晶SOI GE_XSi_(1-X)合金沟道P-MOSFET的研究.半导体学报(8),603-608.
MLA 付军,et al."红外区熔再结晶SOI GE_XSi_(1-X)合金沟道P-MOSFET的研究".半导体学报 .8(1997):603-608.

入库方式: OAI收割

来源:物理研究所

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