Regular defects on the Si(111)-(7×7) surface studied by scanning tunneling microscopy
文献类型：期刊论文
| 作者 | H.Q. Yang ; J.N. Gao ; Y.F. Zhao ; Z.Q. Xue ; S.J. Pang |
| 刊名 | Surface Science
 |
| 出版日期 | 1998 |
| 卷号 | 406页码:229 |
| 公开日期 | 2013-09-24 |
| 源URL | [http://ir.iphy.ac.cn/handle/311004/52000]  |
| 专题 | 物理研究所_物理所公开发表论文_物理所公开发表论文_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | H.Q. Yang,J.N. Gao,Y.F. Zhao,et al. Regular defects on the Si(111)-(7×7) surface studied by scanning tunneling microscopy[J]. Surface Science,1998,406:229. |
| APA | H.Q. Yang,J.N. Gao,Y.F. Zhao,Z.Q. Xue,&S.J. Pang.(1998).Regular defects on the Si(111)-(7×7) surface studied by scanning tunneling microscopy.Surface Science,406,229. |
| MLA | H.Q. Yang,et al."Regular defects on the Si(111)-(7×7) surface studied by scanning tunneling microscopy".Surface Science 406(1998):229. |
入库方式： OAI收割
来源：物理研究所
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