Study of a structural phase transition in Gd5(Si1-xGex)4 by means of temperature dependent X-ray diffraction
文献类型：期刊论文
| 作者 | Q.L. Liu ; G.H. Rao ; and J.K. Liang |
| 刊名 | The Rigaku Journal
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| 出版日期 | 2001 |
| 卷号 | 18页码:46 |
| 公开日期 | 2013-09-24 |
| 源URL | [http://ir.iphy.ac.cn/handle/311004/53725]  |
| 专题 | 物理研究所_物理所公开发表论文_物理所公开发表论文_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Q.L. Liu,G.H. Rao,and J.K. Liang. Study of a structural phase transition in Gd5(Si1-xGex)4 by means of temperature dependent X-ray diffraction[J]. The Rigaku Journal,2001,18:46. |
| APA | Q.L. Liu,G.H. Rao,&and J.K. Liang.(2001).Study of a structural phase transition in Gd5(Si1-xGex)4 by means of temperature dependent X-ray diffraction.The Rigaku Journal,18,46. |
| MLA | Q.L. Liu,et al."Study of a structural phase transition in Gd5(Si1-xGex)4 by means of temperature dependent X-ray diffraction".The Rigaku Journal 18(2001):46. |
入库方式： OAI收割
来源：物理研究所
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