Study on CeO2 thin films grown on biaxially textured nickel (001) substrates using x-ray diffraction (in Chinese)
文献类型：期刊论文
| 作者 | Wang Rongping ; Y.L. Zhou ; S.H. Pan ; H.B. Lu ; Z.H. Chen |
| 刊名 | CHINESE J LOW TEMP PHYS
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| 出版日期 | 1999 |
| 卷号 | 21页码:31 |
| 公开日期 | 2013-09-24 |
| 源URL | [http://ir.iphy.ac.cn/handle/311004/53831]  |
| 专题 | 物理研究所_物理所公开发表论文_物理所公开发表论文_期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Wang Rongping,Y.L. Zhou,S.H. Pan,et al. Study on CeO2 thin films grown on biaxially textured nickel (001) substrates using x-ray diffraction (in Chinese)[J]. CHINESE J LOW TEMP PHYS,1999,21:31. |
| APA | Wang Rongping,Y.L. Zhou,S.H. Pan,H.B. Lu,&Z.H. Chen.(1999).Study on CeO2 thin films grown on biaxially textured nickel (001) substrates using x-ray diffraction (in Chinese).CHINESE J LOW TEMP PHYS,21,31. |
| MLA | Wang Rongping,et al."Study on CeO2 thin films grown on biaxially textured nickel (001) substrates using x-ray diffraction (in Chinese)".CHINESE J LOW TEMP PHYS 21(1999):31. |
入库方式： OAI收割
来源：物理研究所
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