(LaxBi(1-x))2Ti2O7薄膜X射线光电子能谱研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 刘维民
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| 刊名 | 压电与声光
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| 出版日期 | 2005 |
| 卷号 | 27期号:1页码:50-52 |
| 关键词 | 介电薄膜 化学溶液沉积(CSD) X射线光电能谱仪(XPS) |
| ISSN号 | 1004-2474 |
| 中文摘要 | 采用化学溶液沉积(CSD)工艺在 Si(100)衬底上制备了Bi2Ti2O7(BTO(和(LaxBi1- x)2Ti2O7(BLT(铁电薄膜, 薄膜的X射线衍射(XRD)结果显示其具有较好的结晶性, 运用X射线光电能谱仪(XPS)对薄膜的结构进行了研究, 分析结果表明, 薄膜中氧空位的出现影响了其相的稳定性, 通过掺La可以改善其性能。 |
| 学科主题 | 材料科学与物理化学 |
| 收录类别 | CSCD |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2014-03-03 |
| 源URL | [http://210.77.64.217/handle/362003/5102]  |
| 专题 | 兰州化学物理研究所_固体润滑国家重点实验室 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘维民. (LaxBi(1-x))2Ti2O7薄膜X射线光电子能谱研究[J]. 压电与声光,2005,27(1):50-52. |
| APA | 刘维民.(2005).(LaxBi(1-x))2Ti2O7薄膜X射线光电子能谱研究.压电与声光,27(1),50-52. |
| MLA | 刘维民."(LaxBi(1-x))2Ti2O7薄膜X射线光电子能谱研究".压电与声光 27.1(2005):50-52. |
入库方式： OAI收割
来源：兰州化学物理研究所
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