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谱线漂移对星载成像光谱仪辐射测量精度的影响

文献类型:期刊论文

作者颜昌翔; 张军强
刊名光学学报
出版日期2013-02-10
期号02页码:89-95
关键词测量 成像光谱仪 谱线漂移 辐射测量 仿真分析
中文摘要分析了谱线漂移在地面辐射定标、星上辐射定标和在轨对地观测等环节对成像光谱仪辐射测量的影响,建立了从实验室辐射定标到星上辐射定标再到在轨对地观测全过程的辐射传递模型,并通过仿真分析求解了成像光谱仪入瞳处辐射测量不确定与谱线漂移之间的关系。结果表明,谱线漂移导致的辐射测量误差与谱线漂移量和入瞳辐亮度的分布梯度成正比;光谱带宽偏差对测量精度的影响程度较中心波长误差高一个数量级。对于可见近红外(VNIR)波段平均光谱带宽10nm、短波红外(SWIR)波段平均光谱带宽20nm的典型成像光谱仪,要保证谱线漂移引起的辐射测量不确定度小于6%,实现成像光谱仪在轨观测时入瞳处的辐射测量绝对精度优于10%,可见近红外波段中心波长偏差应不大于2nm,光谱带宽偏差应不大于0.1nm,短波红外波段中心波长偏差应不大于3nm,光谱带宽偏差应不大于0.1nm。
收录类别CNKI
语种中文
公开日期2014-03-07
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/38347]  
专题长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式
GB/T 7714
颜昌翔,张军强. 谱线漂移对星载成像光谱仪辐射测量精度的影响[J]. 光学学报,2013(02):89-95.
APA 颜昌翔,&张军强.(2013).谱线漂移对星载成像光谱仪辐射测量精度的影响.光学学报(02),89-95.
MLA 颜昌翔,et al."谱线漂移对星载成像光谱仪辐射测量精度的影响".光学学报 .02(2013):89-95.

入库方式: OAI收割

来源:长春光学精密机械与物理研究所

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