红外探测器非均匀性校正系统研制
文献类型：期刊论文
| 作者 | 王超
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| 刊名 | 红外与激光工程
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| 出版日期 | 2013-07-25 |
| 期号 | 07页码:1669-1673 |
| 关键词 | 红外焦平面阵列 非均匀性校正 “S”曲线拟合 FPGA |
| 中文摘要 | 分析了红外焦平面阵列(IRFPA)基于定标的非均匀性校正算法和基于场景的非均匀性校正算法的优势和不足。针对红外焦平面阵列二元非线性的非均匀性理论模型这一特点,提出了一种基于S曲线拟合的校正算法。利用FLIR公司的长波非制冷红外探测器进行信号采集,建立了焦平面探测元的响应模型。描述了基于FLIR长波非制冷红外探测器在FPGA平台的处理流程,并实现了S曲线校正算法,提高了红外图像的质量。实验表明,经过S曲线拟合校正处理,减弱了红外图像的条纹噪声,使IRFPA组件的非均匀性从6.45%降低至2.06%。 |
| 收录类别 | CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2014-03-07 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/38614]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王超. 红外探测器非均匀性校正系统研制[J]. 红外与激光工程,2013(07):1669-1673. |
| APA | 王超.(2013).红外探测器非均匀性校正系统研制.红外与激光工程(07),1669-1673. |
| MLA | 王超."红外探测器非均匀性校正系统研制".红外与激光工程 .07(2013):1669-1673. |
入库方式： OAI收割
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