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微通道板式WSZ位敏阳极探测器的图像拖尾处理

文献类型:期刊论文

作者朱小明; 王晓东; 刘文光; 李哲
刊名光学精密工程
出版日期2013-09-15
期号09页码:2439-2444
关键词极紫外成像仪 图像拖尾 信号叠加 微通道板反馈
中文摘要分析了极紫外成像仪图像拖尾的原因,提出了消除该现象的方法。分析了坐标计算公式中各个分量变化对图像的影响,结果显示:信号叠加和微通道板(MCP)反馈是系统对坐标分量影响最大的两种因素。通过对图像数据的分析,排除了信号叠加的两种情况即峰堆积和尾堆积产生拖尾的可能性。对拖尾最严重处电荷变化量的计算表明,MCP反馈是产生拖尾的主要原因,而MCP所加高压的幅度是产生反馈的重要因素之一。最后,用在2 950 V和2 800 V高压下采集的图像验证了拖尾是由MCP反馈引发的,并通过实验给出了解决方案:通过烘烤减少MCP通道内的气体残留并定期对MCP进行电子束清刷来降低反馈发生的几率,减小拖尾的影响。
收录类别CNKI
语种中文
公开日期2014-03-07
源URL[http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/38723]  
专题长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出
推荐引用方式
GB/T 7714
朱小明,王晓东,刘文光,等. 微通道板式WSZ位敏阳极探测器的图像拖尾处理[J]. 光学精密工程,2013(09):2439-2444.
APA 朱小明,王晓东,刘文光,&李哲.(2013).微通道板式WSZ位敏阳极探测器的图像拖尾处理.光学精密工程(09),2439-2444.
MLA 朱小明,et al."微通道板式WSZ位敏阳极探测器的图像拖尾处理".光学精密工程 .09(2013):2439-2444.

入库方式: OAI收割

来源:长春光学精密机械与物理研究所

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