CCD成像电子学单元光电参量测试系统
文献类型：期刊论文
| 作者 | 孙景旭 ; 刘则洵 ; 万志 ; 李宪圣 ; 李葆勇 ; 任建伟 |
| 刊名 | 应用光学
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| 出版日期 | 2013-03-15 |
| 期号 | 02页码:289-294 |
| 关键词 | CCD成像电子学单元 光电参量 辐射性能 波长定标 相对光谱响应度 |
| 中文摘要 | 针对空间光学相机重要组成部分的CCD成像电子学单元的光电参量测试需求,介绍了CCD成像电子学单元光电参量测试必要性,提出了对CCD成像电子学单元光电参量进行系统测试的试验方案,并设计、研制了测试装置。对于该装置进行了系统调试与标定,得到单色仪波长定标系数为1.003 29,并对CCD成像电子学单元辐射性能测试中积分球的稳定性及均匀性进行了测试,测试结果满足要求。通过标准探测器标定待测探测器,得到待测探测器的相对光谱响应度。整套装置满足测试要求。 |
| 收录类别 | CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2014-03-07 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/38840]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 孙景旭,刘则洵,万志,等. CCD成像电子学单元光电参量测试系统[J]. 应用光学,2013(02):289-294. |
| APA | 孙景旭,刘则洵,万志,李宪圣,李葆勇,&任建伟.(2013).CCD成像电子学单元光电参量测试系统.应用光学(02),289-294. |
| MLA | 孙景旭,et al."CCD成像电子学单元光电参量测试系统".应用光学 .02(2013):289-294. |
入库方式： OAI收割
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