CCD器件相对光谱响应测试仪
文献类型：期刊论文
| 作者 | 章明朝 ; 闫丰; 周跃; 陈雪
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| 刊名 | 光谱学与光谱分析
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| 出版日期 | 2013-10-15 |
| 期号 | 10页码:2865-2868 |
| 关键词 | CCD 相对光谱响应 全自动测试 不确定度 |
| 中文摘要 | 设计并实现了一种涵盖400～950nm的全自动CCD器件相对光谱响应测试仪。分析了成像器件的相对光谱响应测试原理,采用宽光谱、高灵敏度响应的科学级光纤光谱仪QE65000作为参考探测器,基于单光路直接比较法,构建了CCD器件相对光谱响应测试仪器。该装置可全自动完成CCD器件的相对光谱响应测量,不确定度分析结果表明,该装置对CCD器件开展相对光谱响应测试的最大不确定度为6.21%,满足应用需求,可为CCD等图像传感器甄选、参数性能评价及后续整机测试提供关键数据支撑。 |
| 收录类别 | CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2014-03-07 |
| 源URL | [http://ir.ciomp.ac.cn/handle/181722/38911]  |
| 专题 | 长春光学精密机械与物理研究所_中科院长春光机所知识产出 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 章明朝,闫丰,周跃,等. CCD器件相对光谱响应测试仪[J]. 光谱学与光谱分析,2013(10):2865-2868. |
| APA | 章明朝,闫丰,周跃,&陈雪.(2013).CCD器件相对光谱响应测试仪.光谱学与光谱分析(10),2865-2868. |
| MLA | 章明朝,et al."CCD器件相对光谱响应测试仪".光谱学与光谱分析 .10(2013):2865-2868. |
入库方式： OAI收割
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