Atomic-scale mapping of dipole frustration at 90 degrees charged domain walls in ferroelectric PbTiO3 films
文献类型：期刊论文
| 作者 | Y. L. Tang ; Y. L. Zhu ; Y. J. Wang ; W. Y. Wang ; Y. B. Xu ; W. J. Ren ; Z. D. Zhang ; X. L. Ma |
| 刊名 | Scientific Reports
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| 出版日期 | 2014 |
| 卷号 | 4 |
| 关键词 | transmission electron-microscopy thin-films force microscopy image-analysis polarization strain 180-degrees conduction thickness crystals |
| ISSN号 | 2045-2322 |
| 原文出处 | |
| 语种 | 英语 |
| 公开日期 | 2014-03-14 |
| 源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/72496]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Y. L. Tang,Y. L. Zhu,Y. J. Wang,et al. Atomic-scale mapping of dipole frustration at 90 degrees charged domain walls in ferroelectric PbTiO3 films[J]. Scientific Reports,2014,4. |
| APA | Y. L. Tang.,Y. L. Zhu.,Y. J. Wang.,W. Y. Wang.,Y. B. Xu.,...&X. L. Ma.(2014).Atomic-scale mapping of dipole frustration at 90 degrees charged domain walls in ferroelectric PbTiO3 films.Scientific Reports,4. |
| MLA | Y. L. Tang,et al."Atomic-scale mapping of dipole frustration at 90 degrees charged domain walls in ferroelectric PbTiO3 films".Scientific Reports 4(2014). |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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