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光学综合孔径干涉成像技术
文献类型：期刊论文
| 作者 | 周必方 ; 王海涛
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| 刊名 | 光学精密工程
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| 出版日期 | 2002-10 |
| 卷号 | 10期号:5页码:434-442 |
| 关键词 | 光干涉 光学综合孔径 图像重构 闭合相位 U_V 覆盖 |
| 中文摘要 |
闭合相位技术、U_V 覆盖技术和像重构技术是光学综合孔径干涉成像的三个关键技术。文中详细介绍了闭合相位技术的原理、U_V 覆盖技术( 包括即时覆盖和通过孔径旋转的非即时覆盖两种方法) 和用于图像重构的常用方法以及用于光学综合孔径像重构的混合迭代方法, 最后讨论了光学综合孔径干涉成像技术的应用。 |
| 学科主题 | 恒星光干涉及综合孔径 |
| 公开日期 | 2013-12-22 |
| 源URL | [http://ir.niaot.ac.cn/handle/114a32/341]  |
| 专题 | 期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 周必方,王海涛. 光学综合孔径干涉成像技术[J]. 光学精密工程,2002,10(5):434-442. |
| APA | 周必方,&王海涛.(2002).光学综合孔径干涉成像技术.光学精密工程,10(5),434-442. |
| MLA | 周必方,et al."光学综合孔径干涉成像技术".光学精密工程 10.5(2002):434-442. |
入库方式： OAI收割
来源：南京天文光学技术研究所
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