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检测大口径光学平面镜时干涉条纹的子孔径拼接方法
文献类型：期刊论文
| 作者 | 崔向群 ; 高必烈; 杨晓洪
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| 刊名 | 光学技术
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| 出版日期 | 2005-07 |
| 卷号 | 31期号:4页码:611-613 |
| 关键词 | 干涉条纹的子孔径拼接 Ritchey-Common 检测 Zernike 多项式 |
| 中文摘要 |
提出了用Ritchey-Common 法检测大口径光学平面镜时干涉条纹的子孔径拼接方法。通过确立基准点将多幅子孔径检测数据统一到全口径归一化坐标系下进行拼接,解决了在检验光路中因Ritchey 角所引起的投影变形问题和如何消去因被检平面的大曲率所造成的像散。通过Zernike 多项式拟合重建连续波面,可恢复全口径波面图像。 |
| 学科主题 | 天文镜面（材料、加工、检测） |
| 公开日期 | 2013-12-24 |
| 源URL | [http://ir.niaot.ac.cn/handle/114a32/401]  |
| 专题 | 期刊论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 崔向群,高必烈,杨晓洪. 检测大口径光学平面镜时干涉条纹的子孔径拼接方法[J]. 光学技术,2005,31(4):611-613. |
| APA | 崔向群,高必烈,&杨晓洪.(2005).检测大口径光学平面镜时干涉条纹的子孔径拼接方法.光学技术,31(4),611-613. |
| MLA | 崔向群,et al."检测大口径光学平面镜时干涉条纹的子孔径拼接方法".光学技术 31.4(2005):611-613. |
入库方式： OAI收割
来源：南京天文光学技术研究所
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