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基于平行平板的折射率高精度非接触测量

文献类型:期刊论文

作者胡中文; 姜明达; 熊芬
刊名应用光学
出版日期2012-01
卷号33期号:1页码:148-153
关键词光学测量 折射率 非接触测量
中文摘要
常用的测量折射率的方法如偏向角法、自准直法、临界角法、V棱镜法等,这些方法通常需特制三棱镜与待测件。待测样品不一致且过程复杂,测试定标周期长,难于自动化。为了保证待测材料的完整及实现自动化测量,进行了基于平行平板的折射率非接触测量的尝试。运用该方法进行折射率的测量,不需特制三棱镜并且待测件与待测样品一致。分析表明,通过选择合适的测量角度,该方法旋转角度精度为Δa=0.003°(即10″),导轨精度为ΔL=0.0008mm,平行平板厚度测量精度为Δd=0.001mm。
学科主题天文技术与方法
公开日期2013-12-31
源URL[http://ir.niaot.ac.cn/handle/114a32/535]  
专题期刊论文
推荐引用方式
GB/T 7714
胡中文,姜明达,熊芬. 基于平行平板的折射率高精度非接触测量[J]. 应用光学,2012,33(1):148-153.
APA 胡中文,姜明达,&熊芬.(2012).基于平行平板的折射率高精度非接触测量.应用光学,33(1),148-153.
MLA 胡中文,et al."基于平行平板的折射率高精度非接触测量".应用光学 33.1(2012):148-153.

入库方式: OAI收割

来源:南京天文光学技术研究所

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