极坐标系统下进行直角坐标扫描的离子束抛光
文献类型:期刊论文
作者 | 郭伟远![]() ![]() |
刊名 | 应用光学
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出版日期 | 2012-01 |
卷号 | 33期号:1页码:164-170 |
关键词 | 离子束抛光 极坐标系统 扫描方式 计算机控制光学表面成形 |
中文摘要 |
在离子束抛光设备研制过程中,离子源扫描运动方式的选择是很关键的,一般分为直角坐标方式扫描和极坐标方式扫描两种。根据两种扫描方式的特点,在极坐标系统下进行直角坐标扫描方式加工。该种方法采用直角坐标扫描方式下的驻留时间计算,算法相对简单。该种方法在极坐标系统下进行加工,同等情况下可加工圆形镜面的口径比直角坐标系统下更大些;而且离子源的可移动区域是一条直线,其余地方可以摆放其他设备,空间利用率较高。对这种新思路进行仿真分析,证实了其具有可行性。 |
学科主题 | 天文镜面(材料、加工、检测) |
公开日期 | 2013-12-31 |
源URL | [http://ir.niaot.ac.cn/handle/114a32/537] ![]() |
专题 | 期刊论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 郭伟远,成贤锴. 极坐标系统下进行直角坐标扫描的离子束抛光[J]. 应用光学,2012,33(1):164-170. |
APA | 郭伟远,&成贤锴.(2012).极坐标系统下进行直角坐标扫描的离子束抛光.应用光学,33(1),164-170. |
MLA | 郭伟远,et al."极坐标系统下进行直角坐标扫描的离子束抛光".应用光学 33.1(2012):164-170. |
入库方式: OAI收割
来源:南京天文光学技术研究所
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