本文首先介绍了子孔径拼接技术的发展历史以及国内外的研究现状，并且详细论述了子孔径拼接的基本原理。在子孔径拼接原理的基础上提出了在用Ritchey-Common法检测大口径光学平面镜时干涉条纹的子孔径拼接法。通过利用基准定点的方法确定子孔径相对位置，将多幅子孔径检测数据统一到全口径归一化坐标系下，将其进行拼接，并解决了在本检验光路中因Ritchey 角即光线在被检平面上的入射角所引起的投影变形问题和如何消去因被检平丽的大曲率所造成的像散，最后通过Zernike 多项式拟合重建连续波面，恢复全口径波面图像，实验证明了该方法利用在子孔径拼接检验中的可行性。此外，本文还讨论了在用子孔径拼接法检测大口径光学镜面时的精度问题，并分别从理论上和实验中对拼接检验的精度做了定量分析。分别用平面消差、在非商域内的Zernike 多项式系数拟合和在圆域内的Zernike 多项式系数拟合等三种方法对检测得到的波面面形数据进行数据处理。通过对实验数据的分析和处理

验证了平面消差法拟合得到的波面更接近原始波面，拼接效果较好。最后，本文通过模拟实验讨论了LAMOST 项目中MA子镜装调阶段检测方案的误差，并给出结论，证明了子孔径拼接检测应用在MA检测的可行性。