Determination of the Interface States in AmorphousCrystalline Silicon Using Surface Photovoltage Spectroscopy
文献类型：期刊论文
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| 作者 | Li, Hao; Zeng, Xiangbo; Yang, Ping; Zhang, Xiaodong; Xie, Xiaobing; Li, Jingyan; Wang, Qiming |
| 刊名 | ieee electron device letters
 ; IEEE Electron Device Letters
|
| 出版日期 | 2013 ; 2013 |
| 卷号 | 34期号:9页码:1079-1081 |
| 学科主题 | 光电子学 ; 光电子学 |
| 收录类别 | SCI |
| 语种 | 英语 ; 英语 |
| 公开日期 | 2014-04-04 ; 2014-04-04 |
| 源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/24656]  |
| 专题 | 半导体研究所_光电子研究发展中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Li, Hao,Zeng, Xiangbo,Yang, Ping,et al. Determination of the Interface States in AmorphousCrystalline Silicon Using Surface Photovoltage Spectroscopy, Determination of the Interface States in AmorphousCrystalline Silicon Using Surface Photovoltage Spectroscopy[J]. ieee electron device letters, IEEE Electron Device Letters,2013, 2013,34, 34(9):1079-1081, 1079-1081. |
| APA | Li, Hao.,Zeng, Xiangbo.,Yang, Ping.,Zhang, Xiaodong.,Xie, Xiaobing.,...&Wang, Qiming.(2013).Determination of the Interface States in AmorphousCrystalline Silicon Using Surface Photovoltage Spectroscopy.ieee electron device letters,34(9),1079-1081. |
| MLA | Li, Hao,et al."Determination of the Interface States in AmorphousCrystalline Silicon Using Surface Photovoltage Spectroscopy".ieee electron device letters 34.9(2013):1079-1081. |
入库方式： OAI收割
来源：半导体研究所
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