一种哈达玛变换成像光谱仪的辐射度绝对定标方法
文献类型：专利
| 作者 | 李立波 ; 王爽; 于涛; 胡炳樑
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| 发表日期 | 2013-05-01 |
| 专利国别 | 中国 |
| 专利号 | CN102353448 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 中文摘要 | 本发明涉及一种哈达玛变换成像光谱仪的辐射度绝对定标方法，包括积分球光源、均匀衰减片、可沿与光轴垂直方向平移的电动平移台、哈达玛变换光谱仪、光谱辐射度计、主控计算机、暗箱；哈达玛变换光谱仪和光谱辐射度计分别固定在电动平移台上且位于电动平移台的平移方向两端；电动主控计算机可控制电动平移台的平移；电动主控计算机与哈达玛变换光谱仪和光谱辐射度计分别连接用于采集哈达玛变换光谱仪和光谱辐射度计的输出数据；积分球光源出射的光经过衰减片后可垂直入射至哈达玛变换光谱仪或者光谱辐射度计。本发明解决了目前针对无前置狭缝型哈达玛变换光谱仪辐射度定标方法缺乏的技术问题。本发明定标方法简单，效率高。 |
| 公开日期 | 2012-02-15 |
| 申请日期 | 2011-06-03 |
| 专利申请号 | CN201110148506 |
| 专利代理 | 王少文 |
| 源URL | [http://ir.opt.ac.cn/handle/181661/21067]  |
| 专题 | 西安光学精密机械研究所_光学影像学习与分析中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 李立波,王爽,于涛,等. 一种哈达玛变换成像光谱仪的辐射度绝对定标方法. CN102353448. 2013-05-01. |
入库方式： OAI收割
来源：西安光学精密机械研究所
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