Determination of structure and polarity of SiC single crystal by X-ray diffraction technique
文献类型：期刊论文
| 作者 | Zheng Xinhe, Qu Bo, Wang Yutian, Yang Hui, Liang Junwu |
| 刊名 | chinese journal of semiconductors
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| 出版日期 | 2001 |
| 卷号 | 22期号:1页码:35-39 |
| 学科主题 | 光电子学 |
| 公开日期 | 2014-05-15 |
| 源URL | [http://ir.semi.ac.cn/handle/172111/24965]  |
| 专题 | 半导体研究所_中国科学院半导体研究所（2009年前） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Zheng Xinhe, Qu Bo, Wang Yutian, Yang Hui, Liang Junwu. Determination of structure and polarity of SiC single crystal by X-ray diffraction technique[J]. chinese journal of semiconductors,2001,22(1):35-39. |
| APA | Zheng Xinhe, Qu Bo, Wang Yutian, Yang Hui, Liang Junwu.(2001).Determination of structure and polarity of SiC single crystal by X-ray diffraction technique.chinese journal of semiconductors,22(1),35-39. |
| MLA | Zheng Xinhe, Qu Bo, Wang Yutian, Yang Hui, Liang Junwu."Determination of structure and polarity of SiC single crystal by X-ray diffraction technique".chinese journal of semiconductors 22.1(2001):35-39. |
入库方式： OAI收割
来源：半导体研究所
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