keV量级的N~+注入引起的氨基酸分子损伤
文献类型：期刊论文
| 作者 | 韩建伟 ; 余增亮 |
| 刊名 | 核技术
 |
| 出版日期 | 1999 |
| 卷号 | 22期号:4页码:200-204 |
| 关键词 | 离子注入 注入损伤 氨基酸 |
| ISSN号 | 0253-3219 |
| 其他题名 | Damage effects of keV N~+ ions on amino acid molecules |
| 通讯作者 | 北京8701信箱 |
| 中文摘要 | 利用电子顺磁共振和红外光谱研究了keV级N+注入到几种固态氨基酸样品中引起的分子结构损伤。结果表明，这一注入导致了分子的严重损伤：分子结构解体，红外吸收普遍降低；产生了大量的碎片，其中自由基碎片的类型和数量随注入离子的剂量发生显著变化；损伤碎片重组，形成了新的化学组合，表现出新的红外吸收峰。 |
| 英文摘要 | The keV N+ ions were implanted into several kinds of amino acids in solid state.The EPR and infrared(皿)spectroscopy were applied to study the induced damage. It was shown that severe implantation damages arose, the molecule decomposed, the IR,absorption became weak and a great number of fragments were formed. And the radical fragments' type and quantity sensitively varied with fluence of the implantedions. Some of the fragments were even recomposed to form new chemical compounds,among which amides and new amino acids were the most probable forms. |
| 学科主题 | 空间环境 |
| 资助信息 | 国家自然科学基金 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://ir.cssar.ac.cn/handle/122/48]  |
| 专题 | 国家空间科学中心_保障部/保障与试验验证中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 韩建伟,余增亮. keV量级的N~+注入引起的氨基酸分子损伤[J]. 核技术,1999,22(4):200-204. |
| APA | 韩建伟,&余增亮.(1999).keV量级的N~+注入引起的氨基酸分子损伤.核技术,22(4),200-204. |
| MLA | 韩建伟,et al."keV量级的N~+注入引起的氨基酸分子损伤".核技术 22.4(1999):200-204. |
入库方式： OAI收割
来源：国家空间科学中心
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