临近空间大气中子诱发电子器件单粒子翻转数值仿真研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 张振力 ; 蔡明辉 ; 韩建伟 ; 张振龙 |
| 刊名 | 航天器环境工程
 |
| 出版日期 | 2010 |
| 卷号 | 27期号:4页码:420-423 |
| 关键词 | 单粒子翻转 临近空间 中子能谱 翻转截面 翻转率 |
| ISSN号 | 1673-1379 |
| 其他题名 | Numerical simulation of single event upset induced by near space atmospheric neutron in electronic components |
| 通讯作者 | 北京8701信箱 |
| 中文摘要 | 大气中子作为临近空间主要的辐射粒子,能够诱发电子器件发生单粒子翻转效应,严重威胁着临近空间飞行器安全、可靠地工作。文章研究了临近空间大气中子在不同时间、经度、纬度、高度下的能谱,计算了静态存储器(SRAM)中的IMS1601芯片在不同能量各向同性的中子入射下的翻转截面,在国内首次计算出任意两个临近空间位置上飞行器的IMS1601芯片的翻转率,并且对计算结果进行了验证。 |
| 英文摘要 | Atmospheric neutron is one of the major radioactive particles in the near space which seriously threatens the safety of spacecraft at this region.In this paper,the neutron spectra at different periods,longitudes,latitudes,altitudes are studied.For different energies of isotropic incident neutrons,the upset cross section of the static random access memory(SRAM) is calculated.The single event upset(SEU) rate for SRAM during the flight between any two places in the near space is obtained.All calculation results are verified |
| 学科主题 | 空间环境 |
| 资助信息 | 中国科学院科技创新基金 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://ir.cssar.ac.cn/handle/122/72]  |
| 专题 | 国家空间科学中心_保障部/保障与试验验证中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 张振力,蔡明辉,韩建伟,等. 临近空间大气中子诱发电子器件单粒子翻转数值仿真研究[J]. 航天器环境工程,2010,27(4):420-423. |
| APA | 张振力,蔡明辉,韩建伟,&张振龙.(2010).临近空间大气中子诱发电子器件单粒子翻转数值仿真研究.航天器环境工程,27(4),420-423. |
| MLA | 张振力,et al."临近空间大气中子诱发电子器件单粒子翻转数值仿真研究".航天器环境工程 27.4(2010):420-423. |
入库方式： OAI收割
来源：国家空间科学中心
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。