重离子单粒子效应实验研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 路秀琴 ; 符长波 ; 张新 ; 郭继宇 ; 赵葵 ; 林云龙 ; 蔡金荣 ; 韩建伟 ; 黄建国 |
| 刊名 | 核技术
 |
| 出版日期 | 2003 |
| 卷号 | 26期号:4页码:271-274 |
| 关键词 | 串列加速器 单粒子效应 传能线密度 |
| ISSN号 | 0253-3219 |
| 其他题名 | Experimental study of single event effects induced by heavy |
| 通讯作者 | 北京8701信箱 |
| 中文摘要 | 在HI-13 串列加速器上建立了对微电子器件进行单粒子效应模拟实验的辐照和检测技术。利用该Q3D磁谱仪获得种类和能量单一、强度分布均匀且足够弱的重离子辐照源,利用散射室内的半导体探测器和焦面上的位置灵敏半导体探测器监测辐照离子。用该装置和技术测量了在8个传能线密度(LET) 值的重离子辐照下引起的几个存储器器件的单粒子翻转(SEU)截面s(L)。从测得的s(L)—LET曲线,结合空间重离子和质子辐照环境模型以及离子与微电子器件相互作用模型计算,预言了器件在空间的单粒子翻转率。 |
| 英文摘要 | Experimental testing technique of heavy ion induced single event upset (SEU) has been developed at HI-13 tandem accelerator. Monoenergetic heavy ions, well-distributed and with weak enough intensity, were obtained by using Q3D magnetic spectrometer. The irradiation ions were monitored and measured by a semiconductor detector located in the scattering chamber and a position sensitive semiconductor detector located at the focal plane of the Q3D spectrometer. Curves of SEU cross section versus linear energy transfer (LET) have been measured with eight kinds of ions for some SRAM devices. Predictions of SEU rates have been derived from the test data coupled with models of heavy ion and proton environment and models of the interaction of ions with microelectronic devices. |
| 学科主题 | 空间环境 |
| 资助信息 | 国家自然科学基金 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://ir.cssar.ac.cn/handle/122/80]  |
| 专题 | 国家空间科学中心_保障部/保障与试验验证中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 路秀琴,符长波,张新,等. 重离子单粒子效应实验研究[J]. 核技术,2003,26(4):271-274. |
| APA | 路秀琴.,符长波.,张新.,郭继宇.,赵葵.,...&黄建国.(2003).重离子单粒子效应实验研究.核技术,26(4),271-274. |
| MLA | 路秀琴,et al."重离子单粒子效应实验研究".核技术 26.4(2003):271-274. |
入库方式： OAI收割
来源：国家空间科学中心
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。