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综合孔径微波辐射计天线单元互耦的影响及其校正

文献类型:期刊论文

作者董晓龙 ; 张升伟 ; 吴季 ; 黄永辉 ; 姜景山
刊名电子学报
出版日期2001
卷号29期号:9页码:1280-1282
关键词干涉式综合孔径 微波辐射计 互耦 校正 天线
ISSN号0372-2112
其他题名Effect of Mutual Coupling Between Antenna Elements on the lmaging of Sunthetic Aperture Radiometer and Its Calibartion
通讯作者北京8701信箱
中文摘要本文建立了综合孔径微波辐射计天线单元之间互耦对于综合孔径成像的影响的模型,分析了天线单元之间的经耦对于综合孔径微波辐射计分频率的影响.给出了校正天线单元互耦作用影响的方法,在此基础上提出了一种综合孔径微波辐射计的定标方法.通过数值模拟,证明了所提出的方法的有效性.
英文摘要In the paper, theoretical model of the effect of mutual coupling between antenna elements on the imaging of synthetic aperture radiometer(SARad) is established. The effect of mutual coupling on the resolution of SARad is analyzed. An analtical expression for the calibration of mutual coupling is presented.On the basis of theoretical results, a scheme for the calibration of SAllad is proposed. Numerical simulations show the validity of the proposed method.
学科主题微波遥感
收录类别CSCD
资助信息国家863 计划,国家自然科学基金
语种中文
CSCD记录号CSCD:580633
版本出版稿
源URL[http://ir.cssar.ac.cn/handle/122/2040]  
专题国家空间科学中心_微波遥感部
推荐引用方式
GB/T 7714
董晓龙,张升伟,吴季,等. 综合孔径微波辐射计天线单元互耦的影响及其校正[J]. 电子学报,2001,29(9):1280-1282.
APA 董晓龙,张升伟,吴季,黄永辉,&姜景山.(2001).综合孔径微波辐射计天线单元互耦的影响及其校正.电子学报,29(9),1280-1282.
MLA 董晓龙,et al."综合孔径微波辐射计天线单元互耦的影响及其校正".电子学报 29.9(2001):1280-1282.

入库方式: OAI收割

来源:国家空间科学中心

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