IDT7164在_40_Ar束流中的单粒子效应
文献类型：期刊论文
| 作者 | 王丽君 ; 孙辉先 ; 陈小敏 ; 汪大星 ; 候明东 ; 马峰 ; 刘杰 |
| 刊名 | 原子能科学技术
 |
| 出版日期 | 1997 |
| 卷号 | 31期号:3页码:264-266 |
| 关键词 | 加速器 单粒子事件 IDT7164芯片 截面 |
| ISSN号 | 1000-6931 |
| 其他题名 | MEASUREMENT OF IDT7164 SINGLE EVENT UPSET(SEU) IN ARGON BEAMS OF 25 MeV/u |
| 通讯作者 | 北京8701信箱 |
| 中文摘要 | 在氩束流中，测试了ＩＤＴ７１６４芯片的单粒子事件翻转效应，记录了不同程序运行中的实验结果，由此计算了芯片的截面。 |
| 英文摘要 | The measurement of IDT7164 SEU in Argon beams of 25 MeV/u was made.The result of experiment in different programs are recorded.The cross section of the chip is calculated. |
| 学科主题 | 空间技术 |
| 语种 | 中文 |
| 源URL | [http://ir.cssar.ac.cn/handle/122/745]  |
| 专题 | 国家空间科学中心_空间技术部 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 王丽君,孙辉先,陈小敏,等. IDT7164在_40_Ar束流中的单粒子效应[J]. 原子能科学技术,1997,31(3):264-266. |
| APA | 王丽君.,孙辉先.,陈小敏.,汪大星.,候明东.,...&刘杰.(1997).IDT7164在_40_Ar束流中的单粒子效应.原子能科学技术,31(3),264-266. |
| MLA | 王丽君,et al."IDT7164在_40_Ar束流中的单粒子效应".原子能科学技术 31.3(1997):264-266. |
入库方式： OAI收割
来源：国家空间科学中心
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