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空间粒子辐射对卫星中集成芯片的影响

文献类型:期刊论文

作者蒲剑 ; 叶宗海
刊名空间科学学报
出版日期1993
卷号13期号:4页码:292-298
关键词单粒子事件 银河宇宙线 内辐射带 空间粒子辐射 辐射损伤
ISSN号0254-6124
其他题名EFFECTS OF SPACE PARTICLE RADIATION ON INTEGRATE CHIPS IN THE SATELLITE
通讯作者北京8701信箱
中文摘要本文分析了在“风云一号(B)”气象卫星环境中各种粒子辐射在集成芯片临界体积中产生的能量沉积,即LET(线性能量传输);得到了银河宇宙线1≤Z≤28、银河宇宙线异常成分(C、N、O、Ne、Ar、Fe)、内辐射带质子等产生的LET,计算了其分别产生的单粒于事件(SEU)翻转率。
英文摘要This paper analyses energy deposit in critical volumes of integrate chips, whi-ch produced by some radiated particles in Feng Yun-1 (B) satellite environment. That is called linear energy translation (LET). We have obtained the LET of Galactic Cosmic-Ray components 1 ≤Z≤28, Galactic Cosmic-Ray anomaly components (C, N, O, Ne, Ar, Fe), and inner radiation belt protons. And single event upset (SEU) ratioes produced by these particles are caculated respectively.
学科主题空间环境
资助信息国家自然科学基金
语种中文
源URL[http://ir.cssar.ac.cn/handle/122/332]  
专题国家空间科学中心_空间环境部
推荐引用方式
GB/T 7714
蒲剑,叶宗海. 空间粒子辐射对卫星中集成芯片的影响[J]. 空间科学学报,1993,13(4):292-298.
APA 蒲剑,&叶宗海.(1993).空间粒子辐射对卫星中集成芯片的影响.空间科学学报,13(4),292-298.
MLA 蒲剑,et al."空间粒子辐射对卫星中集成芯片的影响".空间科学学报 13.4(1993):292-298.

入库方式: OAI收割

来源:国家空间科学中心

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