日照边缘区电离层对2003年10月28日大耀斑的响应
文献类型:期刊论文
作者 | 张东和 ; 萧佐 ; 刘静 ; 刘四清 ; 龚建村 |
刊名 | 科学通报
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出版日期 | 2004 |
卷号 | 49期号:14页码:1351-1355 |
关键词 | GPS TEC SITEC 耀斑 日照边缘区域 |
ISSN号 | 0023-074X |
通讯作者 | 北京8701信箱 |
中文摘要 | 利用国际GPS服务中心(IGS)的GPS观测数据, 分析了2003年10月28日特大耀斑期间日照边缘区域的电离层总电子含量(TEC)的响应特点. 计算结果表明, 这是有相关记录以来最强烈的一次电离层总电子含量突增事件, 在地面太阳天顶角80到110的空间范围内, 观测到了明显的由耀斑辐射引起的总电子含量突增. 在太阳天顶角90区域的TEC增加值大约为7 TECU, 在110度附近的总电子含量的增加值大约在1~2 TECU. 总的来看, 太阳天顶角越大, TEC增幅越小, 但在天顶角大于90的区域TEC随天顶角的减少的速度要大于天顶角90以内的区域. |
学科主题 | 空间环境 |
语种 | 中文 |
源URL | [http://ir.cssar.ac.cn/handle/122/340] ![]() |
专题 | 国家空间科学中心_空间环境部 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 张东和,萧佐,刘静,等. 日照边缘区电离层对2003年10月28日大耀斑的响应[J]. 科学通报,2004,49(14):1351-1355. |
APA | 张东和,萧佐,刘静,刘四清,&龚建村.(2004).日照边缘区电离层对2003年10月28日大耀斑的响应.科学通报,49(14),1351-1355. |
MLA | 张东和,et al."日照边缘区电离层对2003年10月28日大耀斑的响应".科学通报 49.14(2004):1351-1355. |
入库方式: OAI收割
来源:国家空间科学中心
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