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日照边缘区电离层对2003年10月28日大耀斑的响应

文献类型:期刊论文

作者张东和 ; 萧佐 ; 刘静 ; 刘四清 ; 龚建村
刊名科学通报
出版日期2004
卷号49期号:14页码:1351-1355
关键词GPS TEC SITEC 耀斑 日照边缘区域
ISSN号0023-074X
通讯作者北京8701信箱
中文摘要利用国际GPS服务中心(IGS)的GPS观测数据, 分析了2003年10月28日特大耀斑期间日照边缘区域的电离层总电子含量(TEC)的响应特点. 计算结果表明, 这是有相关记录以来最强烈的一次电离层总电子含量突增事件, 在地面太阳天顶角80到110的空间范围内, 观测到了明显的由耀斑辐射引起的总电子含量突增. 在太阳天顶角90区域的TEC增加值大约为7 TECU, 在110度附近的总电子含量的增加值大约在1~2 TECU. 总的来看, 太阳天顶角越大, TEC增幅越小, 但在天顶角大于90的区域TEC随天顶角的减少的速度要大于天顶角90以内的区域.
学科主题空间环境
语种中文
源URL[http://ir.cssar.ac.cn/handle/122/340]  
专题国家空间科学中心_空间环境部
推荐引用方式
GB/T 7714
张东和,萧佐,刘静,等. 日照边缘区电离层对2003年10月28日大耀斑的响应[J]. 科学通报,2004,49(14):1351-1355.
APA 张东和,萧佐,刘静,刘四清,&龚建村.(2004).日照边缘区电离层对2003年10月28日大耀斑的响应.科学通报,49(14),1351-1355.
MLA 张东和,et al."日照边缘区电离层对2003年10月28日大耀斑的响应".科学通报 49.14(2004):1351-1355.

入库方式: OAI收割

来源:国家空间科学中心

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