Ni-Te系统的扩散激活能和扩散系数研究
文献类型：期刊论文
| 作者 | 贾彦彦 ; 韩汾汾 ; 程宏伟 ; 李志军 ; 邹杨 ; 徐洪杰 |
| 刊名 | 上海金属
 |
| 出版日期 | 2013-07-15 |
| 期号 | 4页码:1-4+12 |
| 关键词 | Ni-Te系 扩散深度 扩散激活能 扩散系数 |
| 中文摘要 | 在Ni基底上电镀Te薄膜,然后在不同温度下对样品进行相同时间的真空热处理,经室温拉断后测得样品沿晶界断裂深度x。通过拟合ln(x2/t)与1/T的线性关系求出扩散激活能,得出中低温段Te在纯Ni中的晶界扩散系数,并对实验结果和计算进行了讨论。结果表明,在Ni表面镀Te条件下,随温度的升高,Ni的抗拉强度及延伸率急剧下降,试样断口上的沿晶断裂深度逐渐增大;计算得出Te沿纯Ni晶界扩散的激活能为152 kJ/mol,并得出在500℃到1 000℃之间的扩散系数表达式为:D=0.83×10-2exp(-18 360/T)cm2/s。 |
| 收录类别 | CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2014-06-13 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/13443]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2011-2017年 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 贾彦彦,韩汾汾,程宏伟,等. Ni-Te系统的扩散激活能和扩散系数研究[J]. 上海金属,2013(4):1-4+12. |
| APA | 贾彦彦,韩汾汾,程宏伟,李志军,邹杨,&徐洪杰.(2013).Ni-Te系统的扩散激活能和扩散系数研究.上海金属(4),1-4+12. |
| MLA | 贾彦彦,et al."Ni-Te系统的扩散激活能和扩散系数研究".上海金属 .4(2013):1-4+12. |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。