基于X射线光栅成像的多衬度显微计算层析系统
文献类型：期刊论文
| 作者 | 肖体乔
|
| 刊名 | 光学学报
 |
| 出版日期 | 2013-10-10 |
| 期号 | 10页码:319-326 |
| 关键词 | 成像系统 X射线光学 微分相位衬度成像 光栅干涉仪 暗场成像 同步辐射 |
| 中文摘要 | 第三代同步辐射为X射线成像提供了一个单色、能量可调谐的高亮度光源。对于由低Z材料组成的样品来说,相比于传统成像方法,X射线光栅微分相位成像可以实现更高的相位衬度灵敏度,与计算机层析(CT)技术相结合还可以实现三维高密度分辨成像和折射率的测量。在上海光源X射线成像及生物医学应用线站,成功搭建了一套X射线光栅成像系统。基于此成像系统,利用同一套扫描数据可重构出吸收、相位和散射三种衬度信息;对于标准聚合物样品,系统可以高精度定量测量样品的折射率信息。测试结果表明,建成的X射线光栅成像系统可以实现低Z材料和生物医学样品的多衬度成像,有望在生物医学、聚合物材料等领域的无损、高衬度及定量成像研究中发挥重要... |
| 收录类别 | CNKI |
| 语种 | 中文 |
| 公开日期 | 2014-06-13 |
| 源URL | [http://ir.sinap.ac.cn/handle/331007/13492]  |
| 专题 | 上海应用物理研究所_中科院上海应用物理研究所2011-2017年 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 肖体乔. 基于X射线光栅成像的多衬度显微计算层析系统[J]. 光学学报,2013(10):319-326. |
| APA | 肖体乔.(2013).基于X射线光栅成像的多衬度显微计算层析系统.光学学报(10),319-326. |
| MLA | 肖体乔."基于X射线光栅成像的多衬度显微计算层析系统".光学学报 .10(2013):319-326. |
入库方式： OAI收割
来源：上海应用物理研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。