Cubic SiC for trace heavy metal ion analysis
文献类型：期刊论文
| 作者 | H. Zhuang ; C. Wang ; N. Huang ; X. Jiang |
| 刊名 | Electrochemistry Communications
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| 出版日期 | 2014 |
| 卷号 | 41页码:5-7 |
| 关键词 | SiC ASV Heavy metal ion analysis diamond thin-film organic functionalization heteroepitaxial growth stripping voltammetry electrodes surfaces |
| ISSN号 | 1388-2481 |
| 原文出处 | |
| 语种 | 英语 |
| 公开日期 | 2014-07-03 |
| 源URL | [http://ir.imr.ac.cn/handle/321006/72985]  |
| 专题 | 金属研究所_中国科学院金属研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | H. Zhuang,C. Wang,N. Huang,et al. Cubic SiC for trace heavy metal ion analysis[J]. Electrochemistry Communications,2014,41:5-7. |
| APA | H. Zhuang,C. Wang,N. Huang,&X. Jiang.(2014).Cubic SiC for trace heavy metal ion analysis.Electrochemistry Communications,41,5-7. |
| MLA | H. Zhuang,et al."Cubic SiC for trace heavy metal ion analysis".Electrochemistry Communications 41(2014):5-7. |
入库方式： OAI收割
来源：金属研究所
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