无阴影影响水体光学垂直剖面测量装置
文献类型:专利
作者 | 陈永华![]() |
发表日期 | 2014-02-12 |
专利号 | CN201320564843.5 |
专利类型 | 实用新型 |
关键词 | 一种无阴影影响水体光学垂直剖面测量装置 所述重力平衡调节锤(10)可相对移动地安装在支撑架体下部 其特征在于:包括浮力块(2) 辐照度传感器(3)及辐亮度传感器(11)通过该重力平衡调节锤(10)在支撑架体上的移动 辐照度传感器(3) 在水中始终处于竖直方向。 支撑架体 重力平衡调节锤(10)及辐亮度传感器(11) 其中浮力块(2)安装在支撑架体顶部 所述辐照度传感器(3)及辐亮度传感器(11)分别安装在支撑架体的两侧 |
权利人 | 中国科学院海洋研究所. |
中文摘要 | 本实用新型属于海洋观测领域,具体地说是一种无阴影影响水体光学垂直剖面测量装置,包括浮力块、辐照度传感器、支撑架体、重力平衡调节锤及辐亮度传感器,浮力块安装在支撑架体顶部,辐照度、辐亮度传感器分别安装在支撑架体的两侧;重力平衡调节锤可相对移动地安装在支撑架体下部,辐照度、辐亮度传感器通过该重力平衡调节锤在支撑架体上的移动,在水中始终处于竖直方向。本实用新型测量装置能顺流飘离船体,缓慢地自由下落,连续测量从水表面到设定深度的垂直剖面水体上行辐亮度和下行辐照度,具有结构简单和体积小的特点,能够摆脱船体和自身阴影的影响,保证光学测量参数准确,可以进行海洋水色研究、卫星校准和确认等。 |
公开日期 | 2014-02-12 |
申请日期 | 2013-09-11 |
语种 | 中文 |
专利申请号 | CN201320564843.5 |
源URL | [http://ir.qdio.ac.cn/handle/337002/17477] ![]() |
专题 | 海洋研究所_海洋环境工程技术研究发展中心 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 陈永华. 无阴影影响水体光学垂直剖面测量装置. CN201320564843.5. 2014-02-12. |
入库方式: OAI收割
来源:海洋研究所
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