一种集成电路性能测量及电路实验装置
文献类型：专利
| 作者 | 龚德俊 ; 朱素兰 ; 李思忍 ; 徐永平 ; 于新生 |
| 发表日期 | 2003-10-01 |
| 专利号 | CN02280449.8 |
| 专利类型 | 实用新型 |
| 关键词 | 1.一种集成电路性能测量及电路实验装置 至少1块用于接插集成块和电子元件的母板(3) 至少2个用于固定母板(3)的固定块(2) 至少1个固定条(7) 其特征在于包括：基板(1) 其上设有印刷线路即导体(4) 插装在所述固定导槽里 通过固定孔(6)安装在基板(1)上 其上设有多个固定孔(6) 并同时将母板(3)安装在基板(1)上 用于固定整体结构。 上表面均设至少2个固定导槽 于固定导槽之间 |
| 权利人 | 中国科学院海洋研究所. |
| 中文摘要 | 本实用新型涉及集成电路性能测量、试验技术，尤其是一种集成电路性能测量及电路实验装置。包括：基板，其上设有多个固定孔，上表面均设至少2个固定导槽；至少1块用于接插集成块和电子元件的母板，其上设有印刷线路用即导体；至少2个用于固定母板的固定块，插装在所述固定导槽里、并同时将母板安装在基板上、于固定导槽之间；至少1个固定条，通过固定孔安装在基板上，用于固定整体结构。在基板上灵活方便地组合母板，使用本实用新型能安全、方便、快速地用集成块和电子元件搭建测量和实验电路，以对各种型号和形状的(尤其贴片式)集成电路进行各种性能的测量和试验。 |
| 公开日期 | 2003-10-01 |
| 申请日期 | 2002-10-11 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN02280449.8 |
| 源URL | [http://ir.qdio.ac.cn/handle/337002/17508]  |
| 专题 | 海洋研究所_海洋环境工程技术研究发展中心 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 龚德俊,朱素兰,李思忍,等. 一种集成电路性能测量及电路实验装置. CN02280449.8. 2003-10-01. |
入库方式： OAI收割
来源：海洋研究所
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