一种新的粒度仪——BI—XDC
文献类型：期刊论文
| 作者 | 马兴华; 黄滔; 尉俐; 李洪利 |
| 刊名 | 现代科学仪器
 |
| 出版日期 | 1992 |
| 期号 | 03页码:23-24 |
| 关键词 | 粒度仪 BI XDC 粒度测量 亚微米级颗粒 颗粒粒度 颗粒技术 颗粒物料 粒度分布 特种陶瓷 |
| 中文摘要 | <正> 由杜帮公司和布鲁克海文公司联合研制的X光扫描蝶式离心粒度仪(BIXDC),将颗粒粒度和粒度分布测量技术提高到一种新的水平。本文就该仪器的原理、设计特点和测量结果作一概述和评价。 1.前言在颗粒技术中,颗粒粒度的微小变化能够显著影响材料的性能和质量,所以粒度和粒度分布一向是颗粒物料的重要指标。在化工、冶金、材料、特种陶瓷、涂料等许多研究和生产领域中,大量的亚微米级颗粒正在迅速发展,人们需要性能更好的粒度测量仪器。由杜帮公司和布鲁克海文公司联合研制的BI |
| 公开日期 | 2014-08-27 |
| 源URL | [http://ir.ipe.ac.cn/handle/122111/8524]  |
| 专题 | 过程工程研究所_研究所（批量导入） |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 马兴华,黄滔,尉俐,等. 一种新的粒度仪——BI—XDC[J]. 现代科学仪器,1992(03):23-24. |
| APA | 马兴华,黄滔,尉俐,&李洪利.(1992).一种新的粒度仪——BI—XDC.现代科学仪器(03),23-24. |
| MLA | 马兴华,et al."一种新的粒度仪——BI—XDC".现代科学仪器 .03(1992):23-24. |
入库方式： OAI收割
来源：过程工程研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明，本系统中所有内容都受版权保护，并保留所有权利。