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Influence of pulsed bias on TiO2 thin films prepared on silicon by arc ion plating:Experimental and simulation study

文献类型:期刊论文

作者Min Zhang ; Lei Liub ; Xiaoxu Yanga ; Feifei Xua ; Chengsen Liua ; Gong FQ(公发全)
刊名surface & coatings technology
出版日期2013
卷号226页码:186
通讯作者min zhang
合作状况
学科主题物理化学
资助信息3,6
原文出处190
语种
公开日期2014-09-11
源URL[http://159.226.238.44/handle/321008/119337]  
专题大连化学物理研究所_中国科学院大连化学物理研究所
推荐引用方式
GB/T 7714
Min Zhang,Lei Liub,Xiaoxu Yanga,et al. Influence of pulsed bias on TiO2 thin films prepared on silicon by arc ion plating:Experimental and simulation study[J]. surface & coatings technology,2013,226:186.
APA Min Zhang,Lei Liub,Xiaoxu Yanga,Feifei Xua,Chengsen Liua,&公发全.(2013).Influence of pulsed bias on TiO2 thin films prepared on silicon by arc ion plating:Experimental and simulation study.surface & coatings technology,226,186.
MLA Min Zhang,et al."Influence of pulsed bias on TiO2 thin films prepared on silicon by arc ion plating:Experimental and simulation study".surface & coatings technology 226(2013):186.

入库方式: OAI收割

来源:大连化学物理研究所

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