带电粒子束或团可移动时间切片三维成像探测方法及装置
文献类型：专利
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| 作者 | 刘金波 ; 郭敬为 ; 孟庆琨 ; 金玉奇 |
| 发表日期 | 2014 |
| 专利国别 | CN |
| 专利号 | CN201210224944.8 |
| 专利类型 | 发明 |
| 权利人 | 中国科学院大连化学物理研究所 |
| 是否PCT专利 | 否 |
| 中文摘要 | 本发明是一种针对带电粒子束发生和应用领域真空设备中带电粒子束（团）的三维空间结构成像探测方法。该方法采用微通道板（MCP）和荧光屏组成成像探测单元，通过步进电机控制成像探测单元在带电粒子束的飞行路线上前后移动，通过记录一定时间内到达成像探测器前表面的带电粒子数量及其二维分布情况，实现对带电粒子束截面的成像探测。通过在MCP上加直流脉冲电压，可以得到带电粒子束的时间切片成像，获得短时间（最短可至10ns级）内的带电粒子变化情况；通过对切片图像的还原重构，可以获得带电粒子束（团）的三维空间结构。 |
| 公开日期 | 2014-01-15 |
| 申请日期 | 2012-06-29 |
| 语种 | 中文 |
| 专利申请号 | CN201210224944.8 |
| 源URL | [http://159.226.238.44/handle/321008/120756]  |
| 专题 | 大连化学物理研究所_中国科学院大连化学物理研究所 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | 刘金波,郭敬为,孟庆琨,等. 带电粒子束或团可移动时间切片三维成像探测方法及装置, 带电粒子束或团可移动时间切片三维成像探测方法及装置. CN201210224944.8. 2014-01-01. |
入库方式： OAI收割
来源：大连化学物理研究所
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