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表面等离子体谐振测试仪

文献类型:专利

作者崔大付 ; 周力夫 
发表日期2010-12-24
专利国别中国
专利类型发明
权利人中国科学院电子学研究所 
中文摘要表面等离子体谐振测试仪,包括控制系统、光学系统、机械运动结构、角度信号处理电路、光信号处理电路,所说的机械运动结构包括光学平台2,安装在光学平台上的连杆组3,螺杆6一端接有滑块4,另一端与电机7连接,在滑块4下有一导轨5,拉杆9一端连接滑块4,另一端连接连杆组3,角位移传感器8安装在螺杆6上。本发明不仅可应用于研究金属薄膜光学特性和LB膜的分子结构、光学常数等,还可用作传感器对生物、化学量的测量
公开日期1999-12-15 ; 2010-12-24
申请日期1998-06-08
语种中文
专利申请号CN98102366.5 
专利代理戎志敏
源URL[http://159.226.65.12/handle/80137/5179]  
专题电子学研究所_传感技术国家重点实验室(北方基地)_传感技术国家重点实验室(北方基地)_专利
推荐引用方式
GB/T 7714
崔大付,周力夫 . 表面等离子体谐振测试仪. 2010-12-24.

入库方式: OAI收割

来源:电子学研究所

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