MOP-DDPG:Multiple Observation Points Oriented Deterministic Diagnostic Pattern Generation for Compound Faults
文献类型：会议论文
| 作者 | Wang F(王飞) ; Hu Y(胡瑜) ; Ye J(叶靖) |
| 出版日期 | 2011-06-02 |
| 会议名称 | China Semiconductor Technology International Conference 2010 |
| 会议日期 | 2010-11-07 |
| 通讯作者 | 杨海钢 |
| 源URL | [http://159.226.65.12/handle/80137/7237]  |
| 专题 | 电子学研究所_可编程芯片与系统研究室_可编程芯片与系统研究室_会议论文 |
| 推荐引用方式 GB/T 7714 | Wang F,Hu Y,Ye J. MOP-DDPG:Multiple Observation Points Oriented Deterministic Diagnostic Pattern Generation for Compound Faults[C]. 见:China Semiconductor Technology International Conference 2010. 2010-11-07. |
入库方式： OAI收割
来源：电子学研究所
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