嵌入式存储器容错技术有效性建模与评估
文献类型:会议论文
作者 | 支天,蔡刚,秋小强,王新刚,杨海钢 |
出版日期 | 2013 |
会议名称 | 中国电子学会电路与系统学会第24届年会 |
会议日期 | 2013 |
会议地点 | 中国 |
源URL | [http://159.226.65.12/handle/80137/10217] ![]() |
专题 | 电子学研究所_可编程芯片与系统研究室_可编程芯片与系统研究室_会议论文 |
推荐引用方式 GB/T 7714 | 支天,蔡刚,秋小强,王新刚,杨海钢. 嵌入式存储器容错技术有效性建模与评估[C]. 见:中国电子学会电路与系统学会第24届年会. 中国. 2013. |
入库方式: OAI收割
来源:电子学研究所
浏览0
下载0
收藏0
其他版本
除非特别说明,本系统中所有内容都受版权保护,并保留所有权利。