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嵌入式存储器容错技术有效性建模与评估

文献类型:会议论文

作者支天,蔡刚,秋小强,王新刚,杨海钢
出版日期2013
会议名称中国电子学会电路与系统学会第24届年会
会议日期2013
会议地点中国
源URL[http://159.226.65.12/handle/80137/10217]  
专题电子学研究所_可编程芯片与系统研究室_可编程芯片与系统研究室_会议论文
推荐引用方式
GB/T 7714
支天,蔡刚,秋小强,王新刚,杨海钢. 嵌入式存储器容错技术有效性建模与评估[C]. 见:中国电子学会电路与系统学会第24届年会. 中国. 2013.

入库方式: OAI收割

来源:电子学研究所

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